画像検査装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：高田守
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-034675
公開番号（公開出願番号）：特開平7-243824
出願日： 1994年03月04日
公開日（公表日）： 1995年09月19日
要約：

【要約】【目的】検査対象物自身が発光する光や外乱光があっても、画像解析が容易な画像検査装置を得る。【構成】光源1からの光路13aを開いた時と閉じた時の画像間減算による差分画像を解析して対象物を検査するように構成した。初めに、光路13aを閉じた時の画像を多値画像メモリ7に入力記憶する。次に減算部8により、光路13aを開いた時の入力画像からその多値画像メモリ7内の画像を減算し、位置抽出部9によってその差分画像から線状光の位置を抽出して解析処理を行うように構成した。

請求項（抜粋）：

点状光を発生する光源と、その点状光の開閉を行う光路開閉部と、点状光を線状光に変換して検査対象物に照射する線状光変換部と、検査対象物を撮像するカメラと、このカメラが出力する撮像信号を入力して多値のディジタル画像データを作成するカメラインタフェースと、上記光路開閉部を閉鎖させた時にこのカメラインタフェースから出力される画像データを記憶する多値画像メモリと、上記光路開閉部を開放させた時にカメラインタフェースから出力される画像データからこの多値画像メモリに記憶された画像データを減算する減算部と、この減算部が出力する差分画像データから線状光の位置データを抽出する位置抽出部と、この位置抽出部で得られた線状光の位置データの解析処理を行う画像解析部を備えたことを特徴とする画像検査装置。

IPC (5件)：

G01B 11/24 , G01B 11/00 , G06T 7/60 , H04N 1/407 , H04N 7/18

FI (2件)：

G06F 15/70 350 M , H04N 1/40 101 B

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