特許

J-GLOBAL ID：200903002164111510

高密度アレイを使用するサブミクロン直径粒子の検出デバイスおよび方法

発明者： ロバート、ジー、クノーレンバーグ
出願人/特許権者： パーティクル、メジュアリング、システムズ、インコーポレーテッド
代理人 (1件)： 佐藤 一雄 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-078643
公開番号（公開出願番号）：特開平6-026823
出願日： 1992年02月28日
公開日（公表日）： 1994年02月04日
要約：

【要約】 (修正有)【目的】 高密度アレイを利用するサブミクロン直径粒子検出デバイスおよび方法が開示される。【構成】 高密度アレイから転送された各データフレームをバッファするため、電荷記憶デバイスが使用され、多直列出力が、いき値デテクタとアナログ-デジタル変換デバイスを含む並列処理デバイスによって処理される。マイクロコンピュータと対応のデジタル記憶デバイスがデジタル出力を受け、サブミクロン粒子のサイズを表示する出力を発生する。さらに流体によって搬送される粒子の最小限検出可能サイズの測定は、ビーム形成光学デバイス30を使用して、検出区域28を通過する照射ビームを形成し、流体を結像システムに向かって対物面に直交するように指向して高度に楕円形断面を形成し、あるいは流体を対物面に対して平行に指向して円形ビーム断面を形成し、ビーム焦点を検出区域の実質的に中心に配置させる事によって改良される。

請求項（抜粋）：

サブミクロン粒子を配置する事のできる面積手段と、前記面積手段の検出区域に向かってビームを指向し前記検出区域における前記サブミクロン粒子が光散乱を生じるようにする照射手段と、前記検出区域において前記サブミクロン粒子によって散乱される光を受けてこの光を表示する出力信号を発生するために高密度アレイ手段を含む検出手段と、前記検出手段から前記出力信号を受け、この出力信号に対応してこれを処理して、前記サブミクロン粒子を表示する出力を発生する処理手段とを含む事を特徴とするサブミクロン粒子検出デバイス。

IPC (2件)：

G01B 11/08 ,  G01B 9/00

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平4-006436
  
• 特開平3-148041
  
• 特開昭63-153448