特許
J-GLOBAL ID：200903002292298615
プリント配線基板の検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高橋 祥泰
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-173827
公開番号（公開出願番号）：特開平5-340731
出願日： 1992年06月08日
公開日（公表日）： 1993年12月21日
要約：
【要約】【目的】 検査すべきプリント配線基板におけるしきい値を自動的に精度良く検出,選定できると共に,該しきい値を2値化部に自動的に設定することができるプリント配線基板の検査装置を提供すること。【構成】 配線パターンの画像信号を多階調デジタル画像信号に変換するA/D変換部22と,この信号を仮しきい値に基づき2値画像信号に変換する2値化部23と,2値画像信号の配線パターン部分を拡大すると共に論理変換することによりパターンマスク信号を出力するパターンマスク生成部31を有する。更に,上記多階調デジタル画像信号からパターンマスク信号を削除し基材のみの基材画像信号を出力する画像ゲート部33と,基材画像信号を階調別に頻度集計する階調別頻度集計部26と,集計結果に基づき自動的にしきい値を選定するCPU部27とを有する。
請求項（抜粋）：
プリント配線基板上の配線パターンを読み取る撮像装置と,該撮像装置からの画像信号を入力して多階調デジタル画像信号に変換するA/D変換部と,上記多階調デジタル画像信号を入力して仮しきい値に基づき2値画像信号に変換する2値化部と,上記2値画像信号を入力しその配線パターン部分を拡大して拡大2値画像となすと共に,画像ゲート部のクリア端子の論理に合わせて上記拡大2値画像を論理変換することによりパターンマスク信号を出力するパターンマスク生成部と,上記A/D変換部の多階調デジタル画像信号及びパターンマスク生成部のパターンマスク信号を入力し,多階調デジタル画像信号の中から上記パターンマスク信号を削除して,プリント配線基板における基材部の基材画像信号を出力する画像ゲート部と,上記基材画像信号を入力し,階調別にその頻度を集計する階調別頻度集計部と,上記階調別頻度集計部における頻度データに基づいてしきい値を選定し,プリント配線基板の検査時には上記しきい値を上記2値化部に出力する演算部と,上記検査時には上記しきい値に基づいて2値化部より出力される2値画像信号を入力し,プリント配線基板における配線パターンを検査する検査処理部とよりなることを特徴とするプリント配線基板の検査装置。
IPC (3件)：
G01B 11/24
, G01N 21/88
, H05K 3/00
