特許

J-GLOBAL ID：200903002292857509

正規品判定システム

発明者： 貴福 友晴
出願人/特許権者： セイコーエプソン株式会社
代理人 (1件)： 内藤 照雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-021918
公開番号（公開出願番号）：特開2008-187679
出願日： 2007年01月31日
公開日（公表日）： 2008年08月14日
要約：

【課題】正規性判定装置と被判定製品との間の通信パターンを解析しても容易に認証アルゴリズムを解読することができないようにする。【解決手段】小型情報機器1は、ホストコンピュータ110から送信された2つの乱数のうち何れかを選択し、選択された乱数を加工した加工信号をホストコンピュータ110へ送信する加工処理を設定回数だけ繰り返す乱数加工部13を有し、ホストコンピュータ110は、1回の加工処理につき2つの乱数を発生する乱数発生部111,112と、加工信号あるいは加工信号にさらに演算処理を施した加工演算結果と、各乱数を用いて演算された複数の判定演算結果のうちの何れかと、が一致するか否かを設定回数だけ繰り返し判断する演算結果判断部115と、設定回数分の判定結果が、全て一致していた場合に、小型情報機器1を正規製品と判定しホストコンピュータ110との接続を許可する正規デバイス判定部116と、を有する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

正規性判定装置に接続された被判定製品が正規製品であるか否かを判定する正規品判定システムであって、 前記被判定製品は、 前記正規性判定装置から送信された複数の乱数のうち何れかを選択し、選択された乱数を加工した加工信号を前記正規性判定装置へ送信する加工処理を設定回数だけ繰り返す乱数加工部を有し、 前記正規性判定装置は、 1回の加工処理につき前記複数の乱数を発生する乱数発生部と、 前記加工信号あるいは前記加工信号にさらに演算処理を施した加工演算結果と、前記乱数発生部から発生された各乱数を用いて演算された複数の判定演算結果のうちの何れかと、が一致するか否かを前記設定回数だけ繰り返し判断する演算結果判断部と、 前記設定回数分の判定結果が、全て一致していた場合に、前記被判定製品を正規製品と判定し前記正規性判定装置との接続を許可する正規品判定部と、を有することを特徴とする正規品判定システム。

IPC (1件)：

H04L 9/32

FI (1件)：

H04L9/00 675A

Fターム (8件)：

5J104AA07 ,  5J104KA02 ,  5J104KA06 ,  5J104KA21 ,  5J104NA04 ,  5J104PA07 ,  5J104PA10 ,  5J104PA16

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 認証システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-321508   出願人：松下電器産業株式会社