特許

J-GLOBAL ID：200903002316329908

半田付状態検査方法

発明者： 鄭 衆喜 ,  椛澤 孝行
出願人/特許権者： 株式会社シム
代理人 (1件)： 志賀 正武 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-008732
公開番号（公開出願番号）：特開平9-196860
出願日： 1996年01月22日
公開日（公表日）： 1997年07月31日
要約：

【要約】【課題】 フィレットの全体形状から半田付状態の良否を判定する検査方法では、検査装置が複雑かつ大規模なものとなり、画像処理にも時間を要するため、迅速かつ正確な半田付状態の良否判定が不可能であった。【解決手段】 基板1等に設けた基準位置Pに対して一定位置に配置した照明からフィレットに照射した光の反射光を、基準位置Pに対して一定位置に配置した撮像手段によって撮像し、取得したデータから所定輝度以上の高輝度領域Hを特定するとともに、基準位置Pから計測した高輝度領域Hの位置L1と、その面積Sとに基づいて半田付状態の良否を判定する。

請求項（抜粋）：

基板上に実装された電子部品等の半田付状態を検査する方法であって、基板あるいは電子部品等に設けた基準位置に対して一定位置に配置した照明から検査対象箇所のフィレットに照射した光の反射光を、前記基準位置に対して一定位置に配置した撮像手段によって撮像し、取得したデータから所定輝度以上の高輝度領域を特定するとともに、前記基準位置から計測した前記高輝度領域の位置と、該高輝度領域の面積とに基づいて半田付状態の良否を判定することを特徴とする半田付状態検査方法。

IPC (3件)：

G01N 21/88 ,  G01B 11/24 ,  H05K 3/34 512

FI (3件)：

G01N 21/88 F ,  G01B 11/24 C ,  H05K 3/34 512 B