光測定方法及びマイクロプレート

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：古谷史旺
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-196614
公開番号（公開出願番号）：特開2002-014035
出願日： 2000年06月29日
公開日（公表日）： 2002年01月18日
要約：

【要約】【課題】マイクロプレートの各ウエルから得た各測定データを確実に管理することを目的とする。【解決手段】複数のウエルを配置したマイクロプレートを照明し、そのマイクロプレートにおけるウエル形成面からの光が成す投影像を撮像素子にて検出することにより、各ウエルに収容された各標本を光学測定する光測定方法において、配置状態を示す所定の標識が設けられたマイクロプレートを使用し、標識の投影像を撮像素子により検出し、検出した投影像の状態に基づいて、各ウエルからの各光が成す各投影像の形成位置を認識することを特徴とする。したがって、マイクロプレートの配置状態に依らず、各測定データ(各ウエルからの各光が成す各投影像)を、確実にウエル毎に管理することが可能となる。光学測定において使用される撮像素子を利用しているので、効率的でもある。

請求項（抜粋）：

複数のウエルを配置したマイクロプレートを照明し、そのマイクロプレートにおけるウエル形成面からの光が成す投影像を撮像素子にて検出することにより、各ウエルに収容された各標本を光学測定する光測定方法において、配置状態を示す所定の標識が設けられたマイクロプレートを使用し、前記標識の投影像を前記撮像素子により検出し、前記検出した投影像の状態に基づいて、前記各ウエルからの各光が成す各投影像の形成位置を認識することを特徴とする光測定方法。

IPC (2件)：

G01N 21/03 , G01N 21/64

FI (2件)：

G01N 21/03 Z , G01N 21/64 Z

Fターム (19件)：

2G043AA03 , 2G043BA16 , 2G043CA03 , 2G043DA02 , 2G043DA05 , 2G043DA06 , 2G043EA01 , 2G043GA07 , 2G043GB01 , 2G043GB19 , 2G043HA02 , 2G043JA02 , 2G043LA03 , 2G057AA04 , 2G057AB06 , 2G057AC01 , 2G057BA03 , 2G057DC01 , 2G057HB01

引用特許：

審査官引用 (8件)

特開平3-056843
オ-トサンプラ
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-140814 出願人：株式会社島津製作所
特開昭61-172003

全件表示

前のページに戻る