特許

J-GLOBAL ID：200903002404176534

磁区の観察方法

発明者： 小野 位 ,  山田 司 ,  柏木 隆芳
出願人/特許権者： ミツミ電機株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-224664
公開番号（公開出願番号）：特開平6-051042
出願日： 1992年07月31日
公開日（公表日）： 1994年02月25日
要約：

【要約】【目的】本発明は、基板上の磁性体薄膜の上に塗布され、その上にカバーガラスが載置される、強磁性微粒子を懸濁状態で含むコロイド溶液の塗布膜が、該基板上の全体に亘って、ほぼ均一に保持され得るようにした、磁区の観察方法を提供することを目的とする。【構成】基板10上に形成された磁性体薄膜11の表面に、強磁性体微粒子を懸濁させたコロイド溶液の塗布膜12を塗布して、その上からカバーガラス13を載置することにより、該磁性体薄膜の磁気に基づいて、該塗布膜内で凝集する上記強磁性微粒子の集引による磁壁を観察するようにした、磁区の観察方法において、上記塗布膜に対向する該カバーガラス13の下面に、余分な塗布膜が進入し得る溝部13aが備えられているように、構成する。

請求項（抜粋）：

基板上に形成された磁性体薄膜の表面に、強磁性体微粒子を懸濁させたコロイド溶液を滴下して、その塗布膜の上からカバーガラスを載置することにより、該磁性体薄膜の磁気に基づいて、該塗布膜内で凝集する上記強磁性微粒子の集引による磁壁を観察するようにした、磁区の観察方法において、上記塗布膜に対向する該基板の表面及びカバーガラスの下面のうち、少なくともいずれか一方の表面に、余分な塗布膜が進入し得る溝部が備えられていることを特徴とする、磁区の観察方法。