特許

J-GLOBAL ID：200903002421683024

化学発光測定法

発明者： 関根 嘉香
出願人/特許権者： 日立化成工業株式会社
代理人 (1件)： 若林 邦彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-083142
公開番号（公開出願番号）：特開平7-294441
出願日： 1994年04月21日
公開日（公表日）： 1995年11月10日
要約：

【要約】【目的】化学発光基質の量を制限量とした場合に、発光量の極大値に到達する時間が短く、かつその極大値が一定のままで比較的長時間維持される化学発光測定法を提供する。【構成】制限量の化学発光基質に過剰の酸化剤を加えて、化学発光基質の存在量に応じて発光させ、その発光量を測定する化学発光測定法において、酸化剤を加えた後に、反応液に、(a)水溶性ポルフィリン、及び(b)金属イオン、を別々に加え、発光させ、測定する。水溶性ポルフィリンとしては、例えば、メソテトラ-4-カルボキシフェニルポルフィン等があり、金属イオンとしては、例えば、マンガンイオン等がある。

請求項（抜粋）：

制限量の化学発光基質に過剰の酸化剤を加えて、化学発光基質の存在量に応じて発光させ、その発光量を測定する化学発光測定法において、酸化剤を加えた後、反応液に、(a)水溶性ポルフィリン、及び(b)金属イオン、を別々に加えることを特徴とする、化学発光測定法。