特許

J-GLOBAL ID：200903002436749170

蛍光観察又は蛍光測光システム、及び蛍光観察又は蛍光測光方法

発明者： 木下 博章
出願人/特許権者： オリンパス株式会社
代理人 (2件)： 篠原 泰司 ,  藤中 雅之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-175495
公開番号（公開出願番号）：特開2008-003052
出願日： 2006年06月26日
公開日（公表日）： 2008年01月10日
要約：

【課題】高精度、高品質な蛍光観察、蛍光計測、更には微弱蛍光の観察や計測が可能なカバーガラスを用いた蛍光観察システム、蛍光測光システム、蛍光観察方法、及び蛍光測光方法を提供する。【解決手段】低蛍光なカバーガラスを用いてなる蛍光観察又は蛍光測光システムであって、前記低蛍光なカバーガラスが次の条件式を満足する。 BCG'/BCG≦0.7 ただし、BCG'は前記低蛍光なカバーガラスの自家蛍光の強度の平均値、BCGは従来一般的に使用されているカバーガラスの自家蛍光の強度の平均値である。【選択図】図1

請求項１：

低蛍光なカバーガラスを用いてなる蛍光観察又は蛍光測光システムであって、 前記低蛍光なカバーガラスが次の条件式(1-1)を満足することを特徴とする蛍光観察又は蛍光計測システム。 BCG’/BCG≦0.7 ...(1-1) ただし、BCG’は前記低蛍光なカバーガラスの自家蛍光の強度の平均値、BCGは従来一般的に使用されているカバーガラスの自家蛍光の強度の平均値である。

IPC (3件)：

G01N 21/64 ,  G02B 21/00 ,  G02B 21/16

FI (3件)：

G01N21/64 E ,  G02B21/00 ,  G02B21/16

Fターム (20件)：

2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043DA02 ,  2G043EA01 ,  2G043GA07 ,  2G043GB01 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043KA09 ,  2H052AA09 ,  2H052AC06 ,  2H052AC14 ,  2H052AC18 ,  2H052AC20 ,  2H052AC26 ,  2H052AC34 ,  2H052AD03 ,  2H052AE03 ,  2H052AE06 ,  2H052AF02

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 落射蛍光顕微鏡
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-126636   出願人：オリンパス光学工業株式会社
• 蛍光測光装置および蛍光測光方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-318745   出願人：オリンパス光学工業株式会社
• 光学材料の製造方法、その光学材料、及び光学部材
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-259199   出願人：呉羽化学工業株式会社

審査官引用 (1件)

• 疾患に関連する遺伝的変更の整列に基く検出
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2000-506374   出願人：ザリージェンツオブザユニバーシティオブカリフォルニア