特許

J-GLOBAL ID：200903002439113004

複合逆浸透膜の性能評価方法及びこの方法を用いた液体の処理方法

発明者： 伊藤 泰男 ,  島津 彰 ,  池田 健一
出願人/特許権者： 日東電工株式会社
代理人 (1件)： 森岡 博
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-361750
公開番号（公開出願番号）：特開平11-169689
出願日： 1997年12月09日
公開日（公表日）： 1999年06月29日
要約：

【要約】【課題】 高塩阻止率を有する複合逆浸透膜を短時間で再現性よく評価する。【解決手段】 陽電子寿命測定法により求めた乾燥状態におけるポリアミド樹脂中のオルトポジトロニウム寿命を測定する複合逆浸透膜の性能評価方法。オルトポジトロニウム寿命は1.2〜4.0ns、相対強度は5〜15%であるのが好ましい。

請求項（抜粋）：

2以上の反応性アミノ基を有する化合物と多官能性酸ハロゲン化物との界面反応により形成されたポリアミド樹脂からなるスキン層を、多孔性支持体上に設けた複合逆浸透膜において、陽電子寿命測定法により求めた乾燥状態における前記ポリアミド樹脂中のオルトポジトロニウム寿命を測定することを特徴とする複合逆浸透膜の性能評価方法。

IPC (3件)：

B01D 65/10 ,  B01D 69/12 ,  B01D 71/40

FI (3件)：

B01D 65/10 ,  B01D 69/12 ,  B01D 71/40