特許
J-GLOBAL ID：200903002453011699
二波長光イオン化質量分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
光石 俊郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-000519
公開番号（公開出願番号）：特開2002-202289
出願日： 2001年01月05日
公開日（公表日）： 2002年07月19日
要約：
【要約】【課題】 排ガス中のダイオキシン類を直接分析する二波長光イオン化質量分析装置を提供することを課題とする。【解決手段】 真空チャンバー11内に煙道12からの排ガス13を洩れ出し分子線14として連続的に導入する試料導入手段15と、該導入された洩れ出し分子線14中に集光レンズ16を介して第1のパルスレーザ光17を照射する波長固定レーザ18aと波長可変レーザ18bからなる第1のレーザ照射手段と、上記第1のレーザ光17の集光位置に空間的な重なりをもって第2のパルスレーザ光19を集光レンズを介さずに照射する波長固定レーザ18aからなる第2のレーザ照射手段と、第1のレーザ光17と第2のレーザ光19とが空間的及び時間的な重なりをもって洩れ出し分子線14に照射してイオン化し、生成した分子イオン20の分析を行うイオン検出器21を備えた飛行時間型質量分析装置22とを備えてなる。
請求項（抜粋）：
真空容器内に試料を導入する試料導入手段と、該導入された試料に波長の異なるレーザ光を空間的な重なりをもって照射するレーザ照射手段と、上記レーザ照射により生成した分子イオンの分析を行う飛行時間型質量分析装置とを備えてなると共に、上記波長の異なるレーザ光の照射が、第1のレーザ光は集光レンズによりレーザ光を絞り込みつつ照射すると共に、第2のレーザ光は集光レンズを使用せずにレーザ光を絞り込みつつ照射することを特徴とする二波長光イオン化質量分析装置。
IPC (6件)：
G01N 27/64
, G01N 27/62
, G01N 27/62 ZAB
, G01N 30/72
, H01J 49/10
, H01J 49/40
G01N 27/64 B
, G01N 27/62 K
, G01N 27/62 ZAB V
, G01N 30/72 A
, H01J 49/10
, H01J 49/40
