特許
J-GLOBAL ID：200903002499998730
イオン分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-368749
公開番号（公開出願番号）：特開2000-193647
出願日： 1998年12月25日
公開日（公表日）： 2000年07月14日
要約：
【要約】【課題】 簡単な構成でサプレッサ内部でのガスの発生がなく、従ってノイズのない安定した測定が可能なイオン検出装置を提供する。【解決手段】 濃縮カラムが接続された濃縮バルブと、この濃縮バルブに濃縮されたサンプルを搬送する溶離液と、溶離液によって搬送されたサンプルに含まれる複数の成分を成分毎に順次溶出させる分離カラムと、分離カラムで分離した成分のイオン交換を行う電気式サプレッサーと、この電気式サプレッサーでイオン交換され測定イオン種の導電度を測定する導電度測定手段からなるイオン分析装置において、前記濃縮カラムを通過したサンプル液を前記サプレッサーの再生液流入口に流入させるように構成した。
請求項（抜粋）：
濃縮カラムが接続された濃縮バルブと、この濃縮バルブに濃縮されたサンプルを搬送する溶離液と、溶離液によって搬送されたサンプルに含まれる複数の成分を成分毎に順次溶出させる分離カラムと、分離カラムで分離した成分のイオン交換を行う電気式サプレッサと、この電気式サプレッサでイオン交換され測定イオン種の導電度を測定する導電度測定手段からなるイオン分析装置において、前記濃縮カラムを通過したサンプル液を前記サプレッサの再生液流入口に流入させるように構成したことを特徴とするイオン分析装置。
IPC (3件)：
G01N 30/02
, G01N 30/08
, G01N 30/46
G01N 30/02 E
, G01N 30/08 L
, G01N 30/46 A
