特許

J-GLOBAL ID：200903002507729540

自動分析装置

発明者： 高橋 克明 ,  渋谷 武志
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-269620
公開番号（公開出願番号）：特開平10-115619
出願日： 1996年10月11日
公開日（公表日）： 1998年05月06日
要約：

【要約】【課題】試料プローブ先端部の表面荒さ,汚れにより分注精度が左右されないように、プローブを新品の状態に維持する。【解決手段】プローブ18の可動軌跡上に、柔らかい布を巻き付けたバフローラ20方式の研磨器を設ける。メンテナンス司令により、プローブ18を研磨器2上に移動させ、1日1回磨きを行う。

請求項（抜粋）：

試料と試薬を反応容器に分注して混合し、反応の変化を観察することにより上記試料の成分を分析する自動分析装置において、上記試料あるいは上記試薬を分注するプローブの外壁を研磨する研磨器を備えたことを特徴とする自動分析装置。