特許

J-GLOBAL ID：200903002511189274

β線検出器およびこのβ線検出器の線量測定回路

発明者： 山野 俊也
出願人/特許権者： 富士電機株式会社
代理人 (1件)： 山口 巖
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-159818
公開番号（公開出願番号）：特開平7-020246
出願日： 1993年06月30日
公開日（公表日）： 1995年01月24日
要約：

【要約】【目的】半導体素子を放射線の検出素とするβ線検出器によって、β線の線量を、β線のエネルギーによらない所定の感度で測定できるようにする。【構成】複数の半導体素子と、この半導体素子が放射線によって出力する電気信号を増幅する複数の増幅回路とを一つの基板上に配置し、一つの系統の半導体素子の前面にβ線が透過できるβ線入射窓を配置してβ線検出系統とし、他の系統の半導体素子各々の前面に、β線の透過率が前記第1のβ線入射窓よりも低い値のβ線減衰フィルタを配置して補償系統として、一体に筐体に収めてβ線検出器とする。そうして、この検出器のβ線検出系統の出力の計数結果から補償系統の計数値に重率を乗じて減算を行い、β線のエネルギーによらない線量の測定値を得る。

請求項（抜粋）：

半導体素子を放射線の検出素子とするβ線検出器であって、半導体素子と、この半導体素子が放射線によって出力する電気信号を増幅する複数の増幅回路と、から構成された放射線検出系統を複数系統備え、前記複数系統の半導体素子と増幅回路とを一つの基板上に配置し、一つの系統の半導体素子の前面にβ線を透過するβ線入射窓を配置してβ線検出系統とし、他の系統の半導体素子各々の前面に、β線の透過率が前記のβ線入射窓よりも低い値のβ線減衰フィルタを配置して補償系統とし、前記半導体素子と増幅回路を備えた基板、および前記β線入射窓とβ線減衰フィルタとを一体に筐体に収めたことを特徴とするβ線検出器。

IPC (2件)：

G01T 1/167 ,  G01T 1/172

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平3-065686
  
• 特開昭64-063887
  
• 特開昭63-012179
  
• 特開昭62-113083