特許
J-GLOBAL ID:200903002626435597
レーザ溶接欠陥検出装置及び欠陥検出方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
後藤 洋介 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-217490
公開番号(公開出願番号):特開2000-042770
出願日: 1998年07月31日
公開日(公表日): 2000年02月15日
要約:
【要約】【課題】 安定した欠陥検出を行うことのできるレーザ溶接欠陥検出装置を提供すること。【解決手段】 レーザトーチ12の筺体内に、ワーク14に照射されるレーザ光の光軸と同軸になるようにして溶接部から発する溶接光を集光する集光レンズ15を設け、集光された溶接光を、ピンホール1-1を施したYAG光反射ミラー1で2方向に分離し、分離された2つの溶接光の強度に基づいて溶接箇所の欠陥検出を行う。
請求項(抜粋):
レーザ光をレーザトーチでワークに照射して溶接を行うレーザ溶接機において、前記レーザトーチの筺体内に、前記ワークに照射される前記レーザ光の光軸と同軸になるようにして溶接部から発する溶接光を集光する集光レンズを設け、集光された溶接光を、ピンホールを施した反射ミラーで2方向に分離し、分離された2つの溶接光の強度に基づいて溶接箇所の欠陥検出を行うようにしたことを特徴とするレーザ溶接欠陥検出装置。
IPC (4件):
B23K 26/00
, B23K 26/00 310
, B23K 31/00
, G01N 21/88
FI (4件):
B23K 26/00 P
, B23K 26/00 310 A
, B23K 31/00 L
, G01N 21/88 Z
Fターム (16件):
2G051AB02
, 2G051AB13
, 2G051BA10
, 2G051CB01
, 2G051CC07
, 2G051CC09
, 2G051CC11
, 2G051EA11
, 2G051EA14
, 2G051EA16
, 2G051EB01
, 4E068CA18
, 4E068CB02
, 4E068CC01
, 4E068CD08
, 4E068CD12
引用特許:
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