特許

J-GLOBAL ID：200903002627221124

分析チップおよび分析装置

発明者： 飯田 一浩
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (1件)： 速水 進治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-226750
公開番号（公開出願番号）：特開2004-069397
出願日： 2002年08月02日
公開日（公表日）： 2004年03月04日
要約：

【課題】検出・分析のための特別な外部機器を必要とせず、なおかつ検体を適用後、その場で迅速に目視により分析結果が得られる分析チップを提供する。【解決手段】特定成分の存在を検知することができ、かつ発色等により当該特定成分の存在を示すことができる試薬が含有された試薬層107が流路102に備えられた分析チップ100を用いる。試料は試料導入口104から注入され、試薬層107に展開させる。このときの反応の様子をマイクロレンズ103により拡大して観察する。【選択図】 図3

請求項（抜粋）：

試料中に含まれる特定成分の検出を行う分析チップであって、前記試料の通る流路と、該流路の一部に設けられ、前記特定成分と接触すると発色、発光、変色、脱色または消光する検出部と、該検出部に光を照射する第一の照明部材と、を備えることを特徴とする分析チップ。

IPC (7件)：

G01N21/77 ,  B81B1/00 ,  G01N21/05 ,  G01N21/64 ,  G01N33/483 ,  G01N33/53 ,  G01N37/00

FI (7件)：

G01N21/77 Z ,  B81B1/00 ,  G01N21/05 ,  G01N21/64 F ,  G01N33/483 C ,  G01N33/53 T ,  G01N37/00 101

Fターム (34件)：

2G043AA01 ,  2G043BA16 ,  2G043CA03 ,  2G043DA02 ,  2G043DA05 ,  2G043EA01 ,  2G043GA07 ,  2G043GB19 ,  2G043HA01 ,  2G043LA05 ,  2G045FA11 ,  2G045FA18 ,  2G045FA23 ,  2G045FB03 ,  2G045FB07 ,  2G045FB12 ,  2G045HA13 ,  2G045HA14 ,  2G054EA03 ,  2G054EA05 ,  2G054EA07 ,  2G054FA17 ,  2G054GA04 ,  2G054GA05 ,  2G057AA02 ,  2G057BA05 ,  2G057BB02 ,  2G057BB06 ,  2G057BD04 ,  2G057CA01 ,  2G057DA01 ,  2G057DB01 ,  2G057DB05 ,  2G057DC07

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特表平7-500191
  
• 光学的測定装置およびその方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-078998   出願人：ダイキン工業株式会社
• 呼気分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-043024   出願人：スズキ株式会社
• 特表平7-500191