特許

J-GLOBAL ID：200903002669160443

飛行時間型質量分析計

発明者： デイビス,スティーブン・チャールズ ,  マカロブ,アレキサンダー・アレクシービック ,  ホフマン,アンドリュー・デイビッド
出願人/特許権者： マスラブ・リミテッド
代理人 (1件)： 深見 久郎 (外5名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-560601
公開番号（公開出願番号）：特表2002-520799
出願日： 1999年07月13日
公開日（公表日）： 2002年07月09日
要約：

【要約】飛行時間型質量分析計、たとえばMALDI-TOF分析計などは、粒子が予め定められた距離を移動するためにかかる時間を測定することによって、イオン化された粒子の電荷対質量比の特性を測定する。分析計は少なくとも2つの経路に沿って粒子を加速する加速器(14)を含み、この経路は荷電された粒子の単一のビーム中に含まれてもよい。2つの検出器(26および30)は経路の端部を定め、そこを移動する粒子を検出するために動作可能である。第1の検出器(26)への経路の長さは第2の検出器(30)への経路の長さと十分に異なるために、2つの検出器における対応する粒子の検出時間の差を用いて前記特性の測定値を与えることができる。粒子の初速度および/またはイオン化時間のばらつきは両方の検出器の出力に類似の影響を有するため、一方の検出器を用いて他方の検出器の出力を較正または訂正できる。

請求項（抜粋）：

イオン化された粒子のm/zを測定するための飛行時間型質量分析計であって、この分析計は、前記イオン化された粒子を発生させるためのイオンソースと、前記イオン化された粒子を加速してイオンビームを形成するための加速手段と、2つの検出器の各々においてビームの割当が検出されることによって、イオンのm/z値の測定の精度を改善する目的のために、2つの検出器の各々に対する所与のm/zのイオンのいずれかまたはすべてに対する飛行時間が用いられるようにイオンビームからサンプリングするための手段とを含む、分析計。

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特表平7-500449
  
• MALDI-TOF質量分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-158866   出願人：株式会社島津製作所
• 質量分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-219236   出願人：株式会社島津製作所