特許
J-GLOBAL ID：200903002686018260
制御対象の応答性の劣化を検出するための装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人オカダ・フシミ・ヒラノ
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-050035
公開番号（公開出願番号）：特開2009-203965
出願日： 2008年02月29日
公開日（公表日）： 2009年09月10日
要約：
【課題】制御対象の応答性劣化を検出する。【解決手段】制御対象の応答性劣化を検出するための装置は、制御対象の出力について、第1の出力および該第1の出力とは異なる種類の第2の出力を、第1の実測値および第2の実測値としてそれぞれ検出する。第1の実測値を第1の目標値に収束させるための、該第2の出力の第2の目標値を、非線形制御によって算出する第1の制御器と、第1の制御器の出力に接続されて該第2の目標値を受け取り、該第2の実測値を該第2の目標値に収束させるための操作量を、伝達関数として表現可能な線形制御によって算出する第2の制御器とが備えられる。操作量は制御対象に印加される。さらに、第2の制御器の伝達関数および制御対象の伝達関数を合成した合成伝達関数を第2の目標値に適用することにより得られた値を、第2の出力の推定値として算出し、該推定値と第2の実測値との偏差に基づいて、制御対象の応答性劣化を検出する。【選択図】図5
請求項１：
可変に作動可能な制御対象の応答性の劣化を検出するための装置であって、
前記制御対象の出力について、第1の出力および該第1の出力とは異なる種類の第2の出力を、第1の実測値および第2の実測値としてそれぞれ検出する手段と、
前記第1の実測値を第1の目標値に収束させるための、前記第2の出力の第2の目標値を、非線形制御によって算出する第1の制御器と、
前記第1の制御器の出力に接続されて前記第2の目標値を受け取り、前記第2の実測値を該第2の目標値に収束させるための操作量を、伝達関数として表現可能な線形制御によって算出する第2の制御器であって、該操作量は該制御対象に印加される、第2の制御器と、
前記第2の制御器の伝達関数および前記制御対象の伝達関数を合成した合成伝達関数を前記第2の目標値に適用することにより得られた値を、前記第2の出力についての推定値として算出する手段と、
前記推定値と前記第2の実測値との偏差に基づいて、前記制御対象の応答性劣化を検出する手段と、
を備える装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (19件)：
3G092AA11
, 3G092DA01
, 3G092DA02
, 3G092DA08
, 3G092EA03
, 3G092EA04
, 3G092EA08
, 3G092EB03
, 3G092EC01
, 3G092FA36
, 3G092FB06
, 3G092HA01Z
, 3G092HA04Z
, 3G092HA05Z
, 3G092HE00Z
, 3G092HE01Z
, 3G092HE03Z
, 3G092HE04Z
, 3G092HE08Z
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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