特許
J-GLOBAL ID：200903002701566783
論理回路生成装置及び論理回路生成方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
前田 弘 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-211159
公開番号（公開出願番号）：特開平5-006409
出願日： 1991年08月22日
公開日（公表日）： 1993年01月14日
要約：
【要約】【目的】 十分高いテスタビリティを持ち、テスト回路によるコストの増大が少ない論理回路の自動生成を可能にする。【構成】 入力された機能記述をもとに与えられた機能を満たす論理回路を合成する論理合成手段1と、この論理合成手段1が合成した論理回路を解析して故障検出用のテストベクタを生成するとともに、この生成したテストベクタの故障検出率及びテスタビリティ解析結果を出力する論理レベルテストベクタ生成手段2と、この論理レベルテストベクタ生成手段2が出力する故障検出率が十分に高いかどうかを判定する判定手段3と、この判定手段3により故障検出率が不十分であることが判明した場合には、論理レベルテストベクタ生成手段2が出力したテスタビリティ解析結果をもとに論理合成手段1が合成した論理回路を変形する回路変換手段4とを設ける。
請求項（抜粋）：
機能記述から論理回路を自動的に生成する論理回路生成装置であって、入力された機能記述をもとに与えられた機能を満たす論理回路を合成する論理合成手段と、この論理合成手段が合成した論理回路を解析して故障検出用のテストベクタを生成するとともに、この生成したテストベクタの故障検出率及びテスタビリティ解析結果を出力する論理レベルテストベクタ生成手段と、この論理レベルテストベクタ生成手段が出力する故障検出率が十分に高いかどうかを判定する判定手段と、この判定手段により故障検出率が不十分であることが判明した場合には、前記論理レベルテストベクタ生成手段が出力したテスタビリティ解析結果をもとに前記論理合成手段が合成した論理回路を変形する回路変換手段とを備えたことを特徴とする論理回路生成装置。
IPC (2件)：
G06F 15/60 360
, G01R 31/28
