被分析物同調済み試験システム

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：杉村暁秀 (外5名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-520771
公開番号（公開出願番号）：特表平11-510915
出願日： 1997年10月30日
公開日（公表日）： 1999年09月21日
要約：

【要約】被分析物質検知システムにはサンプルを付与する一組の試験片に固有の目盛り情報が付与されている。キット中の試験片を全て使用した後は装置を破棄し、あるいは該情報が一組の試験片に付属している目盛りチップに保存できかつ分配できるようになっており、それによって異なった組の試験片の異なるセット及びを有する試験装置を再利用することを可能とする関連する目盛りチップを再使用することが可能である。

請求項（抜粋）：

各々の上に置かれた試薬を含む少なくとも一つの試験片を有する試験片セットと、試験片セットと対応してかつ試験片セットの試薬に特有の特徴を有する検量情報を含んだ検量手段と、少なくとも一つの試験片と係合するための止め部を有するハウジングと、少なくとも一部がハウジング内に配置され、かつサンプルと試薬の反応に応答する電気信号を発するセンサと、少なくとも一部がハウジング内に配置され、かつ検量手段に従って作動しサンプルに被分析物質が存在するかどうかを示す検知信号を発するプロセッサとからなる、サンプルと試薬との間の物理的に検知可能な反応に基いてサンプル中の被分析物質が存在するか否かを検知する同調させた検知装置。

IPC (3件)：

G01N 33/52 , G01N 21/78 , G01N 33/49

FI (3件)：

G01N 33/52 B , G01N 21/78 C , G01N 33/49 K

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