特許

J-GLOBAL ID：200903002890316164

ラウエ斑点追跡法

発明者： 佐々木 裕次
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-136430
公開番号（公開出願番号）：特開平10-332607
出願日： 1997年05月27日
公開日（公表日）： 1998年12月18日
要約：

【要約】【課題】 1分子の機能性高分子等の動的挙動を、原子分子レベルのオーダーで追跡することを可能にする方法論を提供すること。【解決手段】 本発明による機能性生体高分子等の動的挙動を1分子で検出するためのサンプルは、目的分子6が目的分子保持用X線透過膜2の上に吸着されており、かつ、結晶性の微小クラスター3が目的分子の目的の部位に標識されている。ラウエ回折計測時には、その計測目的分子6が機能するような条件を2枚のX線透過膜2、5内に実現し、時分割的な計測を可能とする装置より構成されている。【効果】 機能性高分子のある部位に標識された結晶性の微小クラスターの向きの変化をラウエ回折で拡大投影して検出できるので、1分子からの動的変化を検出でき、かつ高速な計測が可能となる。

請求項（抜粋）：

目的分子にラベルされた微結晶、及び多層膜クラスターから散乱させるラウエ回折を指標に目的分子の回転運動を計測することを特徴とするラウエ斑点追跡法。