特許
J-GLOBAL ID:200903002906383061
フォトレジスト用フェノール樹脂の製造方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-132330
公開番号(公開出願番号):特開2000-319346
出願日: 1999年05月13日
公開日(公表日): 2000年11月21日
要約:
【要約】【課題】 解像度に優れ、高耐熱性・高感度を両立するフォトレジスト用フェノール樹脂を提供すること。【解決手段】 3官能性以上のフェノール類(P1)及びアルデヒド類(A)を塩基性触媒の存在下、pH7〜12で反応(一次反応)させて得たレゾール樹脂に、フェノール類(P2)と酸触媒を添加してpH1〜6に調整し、さらに反応(二次反応)させて得られるノボラック型フェノール樹脂で、GPC測定によるポリスチレン換算の重量平均分子量が、一次反応終了時が100〜5000で二次反応終了時が1500〜20000であることを特徴とするフォトレジスト用ノボラック型フェノール樹脂の製造方法。
請求項(抜粋):
3官能性以上のフェノール類(P1)及びアルデヒド類(A)を塩基性触媒の存在下、pH7〜12で反応(一次反応)させて得たレゾール樹脂に、フェノール類(P2)と酸触媒を添加してpH0.1〜6に調整し、さらに反応(二次反応)させて得られるノボラック型フェノール樹脂で、GPC測定によるポリスチレン換算の重量平均分子量が、一次反応終了時が100〜5000で二次反応終了時が1500〜20000であることを特徴とするフォトレジスト用ノボラック型フェノール樹脂の製造方法。
IPC (3件):
C08G 8/24
, C08G 8/00
, G03F 7/032
FI (3件):
C08G 8/24
, C08G 8/00 B
, G03F 7/032
Fターム (29件):
2H025AA01
, 2H025AA02
, 2H025AA10
, 2H025AB16
, 2H025AB17
, 2H025AC01
, 2H025AD03
, 2H025BE01
, 2H025BJ10
, 2H025CB28
, 2H025CB55
, 2H025EA10
, 2H025FA01
, 2H025FA03
, 2H025FA17
, 4J033CA02
, 4J033CA03
, 4J033CA11
, 4J033CA12
, 4J033CA29
, 4J033CB01
, 4J033CB04
, 4J033CB25
, 4J033CC07
, 4J033CC09
, 4J033CC14
, 4J033HA12
, 4J033HA13
, 4J033HB10
引用特許:
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