特許
J-GLOBAL ID:200903002906383061

フォトレジスト用フェノール樹脂の製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-132330
公開番号(公開出願番号):特開2000-319346
出願日: 1999年05月13日
公開日(公表日): 2000年11月21日
要約:
【要約】【課題】 解像度に優れ、高耐熱性・高感度を両立するフォトレジスト用フェノール樹脂を提供すること。【解決手段】 3官能性以上のフェノール類(P1)及びアルデヒド類(A)を塩基性触媒の存在下、pH7〜12で反応(一次反応)させて得たレゾール樹脂に、フェノール類(P2)と酸触媒を添加してpH1〜6に調整し、さらに反応(二次反応)させて得られるノボラック型フェノール樹脂で、GPC測定によるポリスチレン換算の重量平均分子量が、一次反応終了時が100〜5000で二次反応終了時が1500〜20000であることを特徴とするフォトレジスト用ノボラック型フェノール樹脂の製造方法。
請求項(抜粋):
3官能性以上のフェノール類(P1)及びアルデヒド類(A)を塩基性触媒の存在下、pH7〜12で反応(一次反応)させて得たレゾール樹脂に、フェノール類(P2)と酸触媒を添加してpH0.1〜6に調整し、さらに反応(二次反応)させて得られるノボラック型フェノール樹脂で、GPC測定によるポリスチレン換算の重量平均分子量が、一次反応終了時が100〜5000で二次反応終了時が1500〜20000であることを特徴とするフォトレジスト用ノボラック型フェノール樹脂の製造方法。
IPC (3件):
C08G 8/24 ,  C08G 8/00 ,  G03F 7/032
FI (3件):
C08G 8/24 ,  C08G 8/00 B ,  G03F 7/032
Fターム (29件):
2H025AA01 ,  2H025AA02 ,  2H025AA10 ,  2H025AB16 ,  2H025AB17 ,  2H025AC01 ,  2H025AD03 ,  2H025BE01 ,  2H025BJ10 ,  2H025CB28 ,  2H025CB55 ,  2H025EA10 ,  2H025FA01 ,  2H025FA03 ,  2H025FA17 ,  4J033CA02 ,  4J033CA03 ,  4J033CA11 ,  4J033CA12 ,  4J033CA29 ,  4J033CB01 ,  4J033CB04 ,  4J033CB25 ,  4J033CC07 ,  4J033CC09 ,  4J033CC14 ,  4J033HA12 ,  4J033HA13 ,  4J033HB10
引用特許:
審査官引用 (3件)

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