特許
J-GLOBAL ID：200903002926314384

画像欠陥検出装置、画像欠陥検出方法、及び画像欠陥検出方法の手順を記憶した記憶媒体

発明者：
長澤 俊輔

長澤 俊輔 について

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山縣 宏之

山縣 宏之 について

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出原 康徳

出原 康徳 について


出願人/特許権者：
シャープ株式会社

シャープ株式会社 について

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シャープタカヤ電子工業株式会社

シャープタカヤ電子工業株式会社 について


代理人 (1件)： 山本 秀策
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-107015
公開番号（公開出願番号）：特開2001-264257
出願日： 2000年04月07日
公開日（公表日）： 2001年09月26日
要約：
【要約】【課題】 検査員の熟練度や体調に関係なく、正確に欠陥を検出することができる。【解決手段】 カメラによってアナログデータとして取り出された画像のアナログデータの画像がA/D変換器によってデジタルデータに変換されると、マトリクス設定手段18によって、画像上にて、欠陥の種類に応じて異なった検査基準領域および検査対象領域がそれぞれ設定される。そして、比較値抽出手段19によって検査基準領域内および検査対象領域内におけるデジタルデータから比較値が抽出されると、比較手段20によって、その比較値と所定の閾値とに基づいて、欠陥の有無が検出される。
請求項（抜粋）：
画像をアナログデータとして取り出す画像取り出し手段と、この画像取り出し手段によって取り出されたアナログデータの画像をデジタルデータに変換するA/D変換手段と、該画像上にて、欠陥の種類に応じて異なった検査基準領域および検査対象領域をそれぞれ設定する設定手段と、この設定手段にて設定された検査基準領域内および検査対象領域内におけるデジタルデータから比較値を抽出する比較値抽出手段と、該比較値抽出手段にて抽出された比較値と所定の閾値とに基づいて、欠陥の有無を検出する比較手段と、を具備することを特徴とする画像欠陥検出装置。
IPC (4件)：
G01N 21/88 ,  G01M 11/00 ,  G06T 1/00 300 ,  G06T 7/00 200
FI (4件)：
G01N 21/88 J ,  G01M 11/00 T ,  G06T 1/00 300 ,  G06T 7/00 200 Z
Fターム (45件)：
2G051AA90 ,  2G051AB02 ,  2G051CA04 ,  2G051EA11 ,  2G051EA17 ,  2G051EA19 ,  2G051EB01 ,  2G051EC01 ,  2G051ED01 ,  2G051ED13 ,  2G086EE10 ,  5B057AA01 ,  5B057BA19 ,  5B057BA29 ,  5B057CA01 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB01 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC02 ,  5B057CE16 ,  5B057DA03 ,  5B057DA15 ,  5B057DA16 ,  5B057DB02 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5B057DC36 ,  5L096AA02 ,  5L096AA06 ,  5L096BA03 ,  5L096CA02 ,  5L096DA03 ,  5L096EA45 ,  5L096FA14 ,  5L096FA17 ,  5L096GA07 ,  5L096GA17 ,  5L096GA40 ,  5L096JA11 ,  5L096LA04 ,  5L096MA00
引用特許：
審査官引用 (3件)
  • 色むら検査装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-018911   出願人：株式会社東芝
  • 特開昭63-103952
  • 明欠陥/暗欠陥検査装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-280965   出願人：東芝エンジニアリング株式会社

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