特許
J-GLOBAL ID：200903002951148294
光学測定方法
発明者：
,
,
,
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石田 敬 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-108770
公開番号（公開出願番号）：特開平8-047481
出願日： 1995年05月02日
公開日（公表日）： 1996年02月20日
要約：
【要約】【目的】 眼鏡を作るために必要とされる様々なパラメタの測定において、その測定パラメタが正確に計算されることを可能にする。【構成】 眼鏡フレームを着用した眼鏡着用者の画像から測定パラメタを検出するための方法である。その方法においては、眼鏡着用者の瞳孔の領域内における輝度勾配を分析することによって、各瞳孔の中心位置が自動的に検出され、且つ、輝度勾配の分析と上記眼鏡フレームの輪郭の抽出とによって、上記眼鏡フレームに対して接線方向にある水平方向直線と垂直方向直線との位置も自動的に検出される。
請求項（抜粋）：
眼鏡フレームを着用した眼鏡着用者の画像から前記眼鏡着用者に関する測定パラメタを検出する方法であって、前記画像上において、前記フレームに対して接線方向にある水平方向直線と垂直方向直線との位置と前記眼鏡着用者の眼の瞳孔の中心位置とを検出する段階と、前記位置から前記測定パラメタの値を計算する段階と、を含み、更に、前記画像上において、各瞳孔の領域内における輝度勾配を分析することによって、各瞳孔の中心位置を自動的に検出する段階と、前記画像上において、前記フレームに対して接線方向にある前記水平方向直線と前記垂直方向直線との位置を、前記輝度勾配の分析と前記フレームの輪郭の抽出とによって自動的に検出する段階と、を含む方法。
IPC (2件)：
引用特許：
出願人引用 (3件)
-
特開昭59-120128
-
特開昭60-101676
-
特開平3-221028
審査官引用 (6件)
全件表示
前のページに戻る
