特許
J-GLOBAL ID：200903002988020700
コーテイング膜の膜厚測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
藤田 龍太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-318436
公開番号（公開出願番号）：特開平5-126552
出願日： 1991年11月05日
公開日（公表日）： 1993年05月21日
要約：
【要約】【目的】 高度の熟練を要することなく、より容易にかつ精度よく測定する。【構成】 内面にコーティング膜2が形成された管1の外側から超音波斜角探傷法のうちのV透過法による反射エコーを測定し、管1の内面の内面反射エコーとコーティング膜面の膜面反射エコーとの時間差に、予め実験により求めたコーティング膜2に特有の係数を乗算し、コーティング膜2の膜厚を導出する。
請求項（抜粋）：
内面にコーティング膜が形成された管の外側から超音波斜角探傷法のうちのV透過法による反射エコーを測定し、前記管の内面の内面反射エコーと前記コーティング膜面の膜面反射エコーとの時間差に、予め実験により求めた前記コーティング膜に特有の係数を乗算し、前記コーティング膜の膜厚を導出することを特徴とするコーティング膜の膜厚測定方法。
引用特許：
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