特許

J-GLOBAL ID：200903002990396360

コンデンサの測定端子接触検出方法および絶縁抵抗測定方法

発明者： 西岡 良直 ,  北河 満
出願人/特許権者： 株式会社村田製作所
代理人 (1件)： 筒井 秀隆
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-348619
公開番号（公開出願番号）：特開平10-239368
出願日： 1997年12月02日
公開日（公表日）： 1998年09月11日
要約：

【要約】【課題】測定端子とコンデンサとが正常に接触しているか否かを、短時間でかつ確実に検出すること。【解決手段】コンデンサの電極に測定端子を接触させて直流電圧を印加し、コンデンサに流れる電流を測定し、絶縁抵抗を測定する。電圧印加直後のコンデンサの容量C0 の充電期間?@における電流値を測定し、この電流値が設定値より大きい場合に、コンデンサと測定端子との接触状態が正常であると判定する。

請求項（抜粋）：

コンデンサの電極に測定端子を接触させて直流電圧を印加する工程と、上記コンデンサの容量C0 の充電期間における電流値を測定する工程と、上記電流値と設定値とを比較することにより、コンデンサと測定端子との接触状態を検出する工程と、を有するコンデンサの測定端子接触検出方法。

IPC (3件)：

G01R 31/00 ,  G01R 27/02 ,  H01G 13/00 361

FI (3件)：

G01R 31/00 ,  G01R 27/02 R ,  H01G 13/00 361 Z

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開平3-209179
  
• 特開平3-077073