検反装置

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：恩田博宣
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-185483
公開番号（公開出願番号）：特開平6-033343
出願日： 1992年07月13日
公開日（公表日）： 1994年02月08日
要約：

【要約】【目的】部分的な布組織の疎密の影響を受けずに、誤判定を少なくする。【構成】受光部13に空間フィルタ14が設けられ、空間フィルタ14は配列ピッチPの受光素子15a,15bを有する一対の櫛型フィルタ16a,16bからなる。櫛型フィルタ16a,16bからの出力信号が差動演算器17及び加算演算器18に入力される。差動演算器17で差動処理された検反信号が検反信号補正回路22に出力される。加算演算器18で処理された加算信号に対応したゲインがゲイン補正回路27から検反信号補正回路22に出力される。ゲイン補正回路27からの出力に基づくゲインで増幅された検反信号が検反信号補正回路22から比較回路23に出力される。比較回路23で補正後の検反信号と所定のしきい値とが比較される。

請求項（抜粋）：

織布に対して相対移動して、織布の検反領域に照射された光を空間フィルタからなる受光手段で受光して検反情報を得る検反装置において、前記空間フィルタからの出力信号を差動処理する差動演算回路と、前記空間フィルタからの出力信号を加算処理する加算演算回路と、前記差動演算回路からの出力信号である検反信号の強度と、しきい値とを入力して比較して織布の良否を判段する判断手段と、前記判断手段に入力される入力信号の補正を前記加算演算回路の処理信号に基づいて行う補正手段とを備えた検反装置。

IPC (5件)：

D03J 1/06 , D03D 51/18 , D06H 3/08 , D06H 3/12 , G01N 21/89

引用特許：

審査官引用 (4件)

特開平3-249243
特開平4-082942
特開平3-249243

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