特許
J-GLOBAL ID:200903003093873437
X線検査装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件):
小野 由己男
, 加藤 秀忠
, 山下 託嗣
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-166297
公開番号(公開出願番号):特開2005-003480
出願日: 2003年06月11日
公開日(公表日): 2005年01月06日
要約:
【課題】X線照射器とX線ラインセンサとの間を通る検体の位置や姿勢がずれた場合にも検体の検査を適切に行うことができるX線検査装置を提供する。【解決手段】X線検査装置は、X線照射器と、X線ラインセンサと、画像処理ルーチンと、検査判定処理ルーチンとを備える。X線ラインセンサは、X線照射器からのX線を受光する。画像処理ルーチンは、X線による生画像を画像処理して、加工画像を作る。検査判定処理ルーチンは、加工画像に基づき検体の検査を行う。また、画像処理ルーチンは、生画像から検体と背景(検体の外側の部分)との境界線S11〜S14を抽出する工程を経て、加工画像を作る。そして、検査判定処理ルーチンは、加工画像の境界線S11〜S14の内側領域を対象として、検査を行う。【選択図】 図10
請求項1:
X線を照射するX線源と、
前記X線源からのX線を受光するX線受光部と、
前記X線受光部で受光したX線による生画像を画像処理して加工画像を作る画像処理部と、
前記加工画像に基づき、前記X線源と前記X線受光部との間を通る検体の検査を行う検査部と、
を備え、
前記画像処理部は、前記生画像から前記検体と前記検体の外側の背景との境を抽出する工程を経て前記加工画像を作り、
前記検査部は、前記加工画像の前記境の内側領域を対象として、前記検査を行う、
X線検査装置。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (16件):
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA02
, 2G001DA08
, 2G001FA01
, 2G001FA06
, 2G001JA09
, 2G001JA16
, 2G001KA03
, 2G001KA05
, 2G001LA01
, 2G001PA03
, 2G001PA11
, 2G001SA10
, 2G001SA13
引用特許:
審査官引用 (9件)
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X線異物検出装置及び該装置における不良品検出方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-034016
出願人:アンリツ株式会社
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X線検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-097162
出願人:株式会社島津製作所, 株式会社キリンテクノシステム
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X線検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-335214
出願人:株式会社イシダ, 株式会社東研
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接合検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-232541
出願人:トヨタ自動車株式会社
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X線検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-021650
出願人:松下電器産業株式会社
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外観検査方法および装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-105369
出願人:日本電気株式会社
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X線異物検出装置及び該装置における不良品検出方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-026940
出願人:アンリツ株式会社
-
X線検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-046117
出願人:株式会社東研, 株式会社イシダ
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X線異物検出装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-334996
出願人:アンリツ産機システム株式会社
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