特許

J-GLOBAL ID：200903003108210022

電子写真プロセスにおける劣化部品の判定方法

発明者： ロジャー ダブリュ ブドニック ,  ジェームス エム ペーサー ,  グル ビー ラジ ,  ラルフ エー シューメーカー ,  マイケル ジー スワールス
出願人/特許権者： ゼロックス コーポレイション
代理人 (1件)： 吉田 研二 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-088866
公開番号（公開出願番号）：特開平11-327380
出願日： 1999年03月30日
公開日（公表日）： 1999年11月26日
要約：

【要約】【課題】 電子写真プロセスにおける劣化部品の判定方法を得る。【解決手段】 帯電部材372の作動によって影響を受けない位置にある撮像表面370の一部分378を検知して第1の信号を生成させるステップと、帯電部材372の作動によって影響を受ける位置にある撮像表面の数部分380を検知して第2の信号を生成させるステップと、第1および第2の信号を比較するステップと、第1および第2の信号を比較するステップに対応して、劣化した撮像表面の数部分を判定するステップとを含む。

請求項（抜粋）：

制御装置、撮像表面、センサシステム、および帯電部材を含み、前記帯電部材が前記撮像表面の一部を劣化せしめる画像処理機械において、前記撮像表面の劣化を判定する方法であって、前記帯電部材の作動によって影響を受けない位置にある前記撮像表面の一部分を検知して第1の信号を生成させるステップと、前記帯電部材の作動によって影響を受ける位置にある前記撮像表面の数部分を検知して第2の信号を生成させるステップと、前記第1および第2の信号を比較するステップと、前記第1および第2の信号を比較するステップに対応して、劣化した前記撮像表面の数部分を判定するステップとを含むことを特徴とする撮像表面の劣化判定方法。