特許

J-GLOBAL ID：200903003118980624

PCB濃度の測定方法

発明者： 杉山 弘 ,  辻村 幸二
出願人/特許権者： 株式会社明電舎
代理人 (1件)： 橋本 剛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-007539
公開番号（公開出願番号）：特開2005-201747
出願日： 2004年01月15日
公開日（公表日）： 2005年07月28日
要約：

【課題】 「底質調査方法とその解説」に基づいて変圧器に使用された絶縁油に含まれるPCB濃度の測定を行った場合には、アセトニトリル・ヘキサン分配法による油分等の除去操作工程において、PCBを含むヘキサン溶液にヘキサン飽和アセトニトリルを添加し激しく振り混ぜて静置した際に、ヘキサンとアセトニトリルがエマルジョンを形成してしまい、ヘキサン層とアセトニトリル層とを分離するのに時間がかかる、または、分離ができない。【解決手段】 PCBを含むヘキサン溶液に、エマルジョン形成の抑制剤としてヘキサンを添加してから、ヘキサン飽和アセトニトリルを添加する。【選択図】 なし

請求項（抜粋）：

試料に水酸化カリウムのエタノール溶液を添加して加熱処理操作を行う第1工程と、 前記加熱処理後の溶液に対してヘキサンを添加して抽出操作を行った後、分離操作と濃縮操作とを行う第2工程と、 前記濃縮操作により得たヘキサン溶液に対してヘキサン飽和アセトニトリルを添加して抽出操作を行った後、分離操作を行う第3工程と、 前記分離操作により得たアセトニトリル溶液に対して食塩水とヘキサンとを添加して抽出操作を行った後、分離操作と濃縮操作とを行う第4工程と、 前記濃縮操作により得たヘキサン溶液に対して、カラムクロマトグラフ分離操作と濃縮操作とを行う第5工程と、 前記濃縮操作により得た流出液をガスクロマトグラフ分析により分析する第6工程とからなるPCB濃度の測定方法において、 前記第3工程において、前記ヘキサン溶液に、エマルジョン形成の抑制剤としてヘキサンを添加してから、ヘキサン飽和アセトニトリルを添加することを特徴とするPCB濃度の測定方法。

IPC (4件)：

G01N31/00 ,  G01N30/06 ,  G01N33/00 ,  G01N33/26

FI (5件)：

G01N31/00 V ,  G01N31/00 Y ,  G01N30/06 Z ,  G01N33/00 D ,  G01N33/26

Fターム (8件)：

2G042AA01 ,  2G042BD02 ,  2G042CA10 ,  2G042CB03 ,  2G042EA03 ,  2G042FA20 ,  2G042FB02 ,  2G042HA03