特許
J-GLOBAL ID：200903003128178974
IC検査用コネクタ
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大西 正悟
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-288421
公開番号（公開出願番号）：特開平11-126671
出願日： 1997年10月21日
公開日（公表日）： 1999年05月11日
要約：
【要約】【課題】 外観形状が異なるICであっても簡単に検査を行うことができるとともに、自動実装装置を用いて効率よくICの装着を行うことができるIC検査用コネクタを得る。【解決手段】 上面に開口した基板受容空間16を有するハウジング10と、このハウジング10を貫通して保持された複数のPGAリード13と、ハウジング10に対して着脱自在に構成されたポリイミド基板15と、基板受容空間16においてポリイミド基板15の下に配設されるインターコネクタ14と、ハウジング10上に着脱自在に取り付けられた上蓋11と、この上蓋11に設けられたIC押えアーム12とから構成されている。IC押えアーム12は、プロービングボール15dにICリード5bを当接させた状態で、IC受容口11a内でIC5を保持する保持位置と、IC受容口11aからのIC5の着脱が自在な開放位置との間で移動可能に構成されている。
請求項（抜粋）：
上面に開口した基板受容空間を有したハウジングと、前記基板受容空間に面する接触部および前記ハウジングの外方に突出してICの検査を行う検査装置に繋がるリード部を有して前記ハウジングを貫通して保持された複数のコンタクトと、前記基板受容空間内に着脱自在に構成され、ICに設けられた複数のICリードに当接可能な複数のICリード当接部が上面に形成され、これらのICリード当接部に繋がる複数のスルーホールが形成された基板と、前記基板受容空間内において前記接触部と前記スルーホールとの間に位置して前記ICリード当接部と対応する前記コンタクトとの間の信号の伝達を行う信号伝達部材と、前記基板受容空間内の前記基板および前記信号伝達部材を挟持して前記基板受容空間を上方から覆って前記ハウジング上に着脱自在に取り付けられ、前記ICリード当接部の上方に開口してICの受容が可能なIC受容口が形成された上蓋と、この上蓋に設けられ、前記ICリード当接部にICリードを当接させた状態でIC受容口内でICを保持する保持位置と、前記IC受容口からのICの着脱が自在な開放位置との間で移動可能に構成されたIC保持手段とからなることを特徴とするIC検査用コネクタ。
IPC (2件)：
FI (2件)：
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