特許

J-GLOBAL ID：200903003150286055

合金の組織変化測定法および余寿命予測方法

発明者： 斉藤 雅和 ,  青山 隆 ,  玉置 英樹
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-198321
公開番号（公開出願番号）：特開平9-043128
出願日： 1995年08月03日
公開日（公表日）： 1997年02月14日
要約：

【要約】【構成】母相中に整合な第2相を析出させた合金に応力を負荷して使用する場合、応力に平行な方向の電気抵抗を測定し、電気抵抗と組織変化および、余寿命との関係を示す標準データと比較する。また、ある部位から切りとった材料に対して、角度を変えて電気抵抗率を測定する。【効果】母相中に整合な第2相を析出させた合金の組織を特別な前処理なしで測定することができ、この合金で作られた部品のメンテナンスが簡単にできるようになる。また、これまで困難であったこの合金の余寿命時間が予想できるようになり、効率的かつ安全な部品の運用・交換が可能になる。

請求項（抜粋）：

母相中に整合な第2相を析出させた合金に応力を負荷して使用した場合の組織変化の測定法において、電気抵抗を測定することによって、組織変化を測定、または材料,部品としての余寿命予測を行うことを特徴とする合金の組織変化測定法および余寿命予測方法。

IPC (4件)：

G01N 3/32 ,  G01N 27/00 ,  G01N 27/20 ,  G01N 33/20

FI (4件)：

G01N 3/32 E ,  G01N 27/00 L ,  G01N 27/20 Z ,  G01N 33/20 N