特許
J-GLOBAL ID：200903003156509250
帯状体の平坦度の測定方法および装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
白木 大太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-139381
公開番号（公開出願番号）：特開2000-329540
出願日： 1999年05月20日
公開日（公表日）： 2000年11月30日
要約：
【要約】【解決課題】 帯状体に上下振動などの外乱要因があっても、操業者の実感にあった形状不良評価を与えることができ、かつ設備費が比較的低く押さえられる平坦度測定方法および測定装置を提供する。【手段】 帯状体を長手方向の2点で支持しつつ移動させ、前記支持点間における前記帯状体の高さ方向の振動の振幅を前記帯状体の幅方向の幅方向の複数箇所で測定し、前記振幅および上記支持点間の距離に基づき、帯状体の幅方向の複数箇所における長手方向伸び率を演算することによって行う。
請求項（抜粋）：
帯状体を長手方向の2点で支持しつつ移動させ、該支持点間における上記帯状体の高さ方向の振動の振幅を上記帯状体の幅方向複数箇所で測定し、前記振幅および前記支持点間の距離に基づき、帯状体の幅方向複数箇所における長手方向伸び率を演算することを特徴とする帯状体の平坦度測定方法。
Fターム (11件)：
2F065AA24
, 2F065AA47
, 2F065BB13
, 2F065BB15
, 2F065CC06
, 2F065DD11
, 2F065FF09
, 2F065FF11
, 2F065JJ05
, 2F065JJ09
, 2F065UU05
