特許

J-GLOBAL ID：200903003245075043

計装用ガス中の懸濁物質分析装置

発明者： 射延 三嘉 ,  厚見 真喜男
出願人/特許権者： 三菱重工業株式会社
代理人 (1件)： 塚本 正文 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-286775
公開番号（公開出願番号）：特開平9-101261
出願日： 1995年10月06日
公開日（公表日）： 1997年04月15日
要約：

【要約】【課題】 プラント等の稼動中常に流れている計装用ガス中の懸濁物質を当該環境下のままで分析,評価し、更にそれらの成分及び経時変化を直接分析,評価することができる。【解決手段】 計装用ガス管1の分岐管4に配設され光入射窓11及び光出口窓12を有し内部に計装用ガスを封入又は流通させる計装用ガス容器部10と、計装用ガス容器部10内にガス中懸濁物質を原子化するためのプラズマを発生させるマイクロ波発振部20と、計装用ガス容器部10内へ入射する可視,紫外光ビームを発生する光源部30と、計装用ガス容器部10内プラズマ中のガス中懸濁物質からの光を分光記録し演算する分光記録演算装置部40とを具えている。

請求項（抜粋）：

計装用ガス管の分岐管に配設され光入射窓及び光出口窓を有し内部に計装用ガスを封入又は流通させる計装用ガス容器部と、上記計装用ガス容器部内にガス中懸濁物質を原子化するためのプラズマを発生させるマイクロ波発振部と、上記計装用ガス容器部内へ入射する可視,紫外光ビームを発生する光源部と、上記計装用ガス容器部内プラズマ中のガス中懸濁物質からの光を分光記録し演算する分光記録演算装置部とを具えたことを特徴とする計装用ガス中の懸濁物質分析装置。