特許
J-GLOBAL ID：200903003287258270
測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
岡田 全啓
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-182983
公開番号（公開出願番号）：特開平6-003411
出願日： 1992年06月16日
公開日（公表日）： 1994年01月11日
要約：
【要約】【目的】 電子部品の特性を正確に測定でき、コンタクト不良を大幅に改善でき、破損しにくい測定装置を提供する。【構成】 この測定装置20では、電子部品68を載置するための固定台24の近傍において固定台24に向かってコンタクトピン42が延びるように配置される。このコンタクトピン42は、固定台24の厚み方向に撓むばね性を有する。そして、固定台24の一方主面側およびコンタクトピン42の固定台24側の端部を除く部分を覆うようにして、ケースが導電材料で形成される。さらに、コンタクトピン42には、コネクタ34が接続される。コンタクトピン42の固定台24側の端部は、固定台24の一方主面より高い位置に配置される。
請求項（抜粋）：
電子部品を載置するための固定台、前記固定台の近傍において前記固定台に向かって延びるように配置され、前記固定台の厚み方向に撓むばね性を有するコンタクトピン、前記固定台の一方主面側および前記コンタクトピンの前記固定台側の端部を除く部分を覆うようにして導電材料で形成されるケース、および前記コンタクトピンに接続されるコネクタを含み、前記コンタクトピンの前記固定台側の端部は、前記固定台の一方主面より高い位置に配置される、測定装置。
IPC (2件)：
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