特許
J-GLOBAL ID:200903003297065470
歪み計測方法、歪み計測装置および歪み計測システム
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
工藤 実
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-393269
公開番号(公開出願番号):特開2003-194508
出願日: 2001年12月26日
公開日(公表日): 2003年07月09日
要約:
【要約】【課題】 表側のみにゲージを設けるだけで、曲げ歪みεbを計測することのできる歪み計測方法を提供する。【解決手段】 (a) 厚みHを有するベース部11に第1の歪みゲージ12を有し前記ベース部の前記第1の歪みゲージから前記厚み方向に離間した位置に第2の歪みゲージ13を有する歪み計測装置10を提供するステップと、(b)前記歪み計測装置が測定対象物30の表面に接触するように前記歪み計測装置を設置するステップと、(c) 前記第1の歪みゲージの検出値εAと、前記第2の歪みゲージの検出値εBに基づいて、前記測定対象物の曲げ歪みを求めるステップとを備えている。
請求項(抜粋):
(a) 厚みを有するベース部に設けられた第1の歪みゲージと前記ベース部の前記第1の歪みゲージから前記厚み方向に離間した位置に設けられた第2の歪みゲージとを有する歪み計測装置を提供するステップと、(b) 前記歪み計測装置が測定対象物に接触するように前記歪み計測装置を設置するステップと、(c) 前記第1の歪みゲージの検出値と、前記第2の歪みゲージの検出値に基づいて、前記測定対象物の曲げ歪みを求めるステップとを備えた歪み計測方法。
IPC (2件):
FI (2件):
G01L 1/00 D
, G01B 7/18 A
Fターム (6件):
2F063AA25
, 2F063BC10
, 2F063DA02
, 2F063DA05
, 2F063DD03
, 2F063EC25
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