特許
J-GLOBAL ID：200903003320464670
測量機の機械高測定方法および測定器
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
秋山 敦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-275529
公開番号（公開出願番号）：特開平8-114451
出願日： 1994年10月17日
公開日（公表日）： 1996年05月07日
要約：
【要約】【目的】 本発明の目的は、巻き尺等の繰り出し技術や複雑で高価な光学的な技術を用いずに、ある程度の精度で誰でも簡単に利用できる測量機の機械高測定方法および測定器の提供にある。【構成】 機械中心が測点を通る鉛直線上に位置するように設置された測量機の機械高さを測定する測量機の機械高測定方法において、測量機Sの機械中心Oを通る水平線L1が機械側面と交わる点を機械高点Pとし、こぼ機械高点Pと測点Mとを結ぶ線分MPに対し、機械中心Oと対称な点を機械中心対称点Qとして特定し、この特定した機械中心対称点Qと測点M間の距離QMを機械高として測定する。
請求項（抜粋）：
機械中心が測点を通る鉛直線上に位置するように設置された測量機の機械高さを測定する測量機の機械高測定方法において、前記測量機の機械中心を通る水平線が機械側面と交わる点を機械高点とし、該機械高点と測点とを結ぶ線分に対し、機械中心と対称な点を機械中心対称点として特定し、この特定した機械中心対称点と測点間の距離を機械高として測定することを特徴とする測量機の機械高測定方法。
IPC (2件)：
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