特許

J-GLOBAL ID：200903003326472640

下地凹凸膜の評価方法

発明者： 田中 充浩 ,  佐合 由志
出願人/特許権者： シャープ株式会社
代理人 (1件)： 深見 久郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-024625
公開番号（公開出願番号）：特開2001-215172
出願日： 2000年02月02日
公開日（公表日）： 2001年08月10日
要約：

【要約】【課題】 液晶表示装置用の拡散反射板の製造工程において、下地凹凸膜の段階でも反射板としての拡散性ないし指向性の評価を行なえる方法を提供する。【解決手段】 下地凹凸膜の上面に形成すべき反射膜と同じ材質、同じ厚みの平滑な標準測定膜3を基板4上面に形成した標準測定膜基板22を予め作成しておく。下地凹凸膜1を透明基板2の上面に形成した下地凹凸膜基板21を標準測定膜基板22の上に置き、上方から拡散光6を照射して、検出器5で反射光強度を測定する。得られた反射光強度を上記反射光強度と反射率比との関係式に代入し、反射率比を求める。この反射率比により、下地凹凸膜基板21が反射板となったときの拡散性ないし指向性の評価を行なうことができる。

請求項（抜粋）：

液晶表示装置の拡散反射板に用いるために透明基板の上側に形成した下地凹凸膜の評価方法であって、基板の上面に形成した表面が平滑な反射膜を形成した標準測定膜基板の上に前記透明基板と前記下地凹凸膜とを配置し、前記下地凹凸膜に拡散光を照射し、その反射光強度を前記下地凹凸膜の上方で測定する工程を含む下地凹凸膜の評価方法。

IPC (4件)：

G01M 11/00 ,  G02B 27/00 ,  G02F 1/1335 520 ,  G02B 5/02

FI (4件)：

G01M 11/00 T ,  G02F 1/1335 520 ,  G02B 5/02 C ,  G02B 27/00

Fターム (9件)：

2G086EE10 ,  2H042BA03 ,  2H042BA14 ,  2H042BA20 ,  2H091FA14Z ,  2H091FC02 ,  2H091FC30 ,  2H091LA12 ,  2H091LA30