特許
J-GLOBAL ID：200903003337938528
線画像の線幅及び線濃度測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
住吉 多喜男 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-032334
公開番号（公開出願番号）：特開平10-283483
出願日： 1997年02月17日
公開日（公表日）： 1998年10月23日
要約：
【要約】【課題】 粉体現像剤を使用して可視像化された線画像の幅及び濃度を測定する方法を提供する。【解決手段】 CCDカメラを用いて線画像を入力し、モニタ画面上に表示する。予め標準の線画像を入力し、その積算反射率のプロファイルを作成する。標準線画像の積算反射率プロファイル内で最大反射率Rmax、最小反射率Rmin、線幅を横切る反射率Rnを求める。次に測定対象のトナー線画像を同様に入力、処理し、反射率rnに相当する距離寸法をそのトナー線画像の線幅とする。
請求項（抜粋）：
線画像の幅を測定する線幅測定方法であって、画像を二次元に配列された画素に読み取り、この読み取られた前記画素のデータを反射率データとして所定の演算を行う読み取り制御装置を設け、標準線画像の線幅を測定し、この標準線画像を読み取った各画素の反射率データを、この線の長手方向に積算した反射率プロファイルと最大反射率Rmaxと最小反射率Rminとを求め、この反射率プロファイルを所定レベルでスライスして、このスライスされた前記反射率プロファイルの幅が前記測定された標準線画像の幅と等しくなるスライスレベルRnに基づきN=Rn÷(Rmax-Rmin)を演算し、ついで測定されるべき試料線画像を読み取り各画素の反射率データを、この線の長手方向に積算した反射率プロファイルと最大反射率rmaxと最小反射率rminと、前記Nに基づくrn=N×(rmax-rmin)とを求め、さらに前記試料線画像の反射率プロファイルを前記rnをスライスレベルとしたときの幅を求めることにより試料線画像の線幅データを得ることを特徴とする線幅測定方法。
IPC (4件)：
G06T 7/60
, B41J 29/46
, G01B 11/02
, G06T 1/00
G06F 15/70 350 F
, B41J 29/46 C
, G01B 11/02 H
, G06F 15/62 380
