特許

J-GLOBAL ID：200903003360116900

測距装置

発明者： 大友 浩昭
出願人/特許権者： 松下電工株式会社
代理人 (1件)： 西川 惠清 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-282344
公開番号（公開出願番号）：特開平11-118418
出願日： 1997年10月15日
公開日（公表日）： 1999年04月30日
要約：

【要約】【課題】対象物での2次反射による距離の測定誤差を軽減する。【解決手段】一対の受光手段2a,2bが投光手段1からの光ビームを含む一つの平面に対して面対称に配置される。受光手段2a,2bはPSDよりなる受光素子21a,21bを備え、両受光素子21a,21bは、対象物4までの距離によって出力の信号値の増減が一致する端子同士を共通接続した形で並列接続される。したがって、両受光手段2a,2bの間の対称面に直交する方向において、2次反射による輝点が対象物4に生じても、受光素子21a,21bの合成された出力からは2次反射に伴う誤差成分が除去され、距離を正確に測定することができる。

請求項（抜粋）：

対象物に光ビームを照射する投光手段と、前記光ビームにより対象物に形成される投光スポットを受光光学系を通して検出する一対の受光素子を備え両受光素子を前記光ビームを含む一つの平面に対して面対称に配置した受光手段と、受光素子の出力に基づいて対象物までの距離を演算する距離演算手段とを備え、各受光素子は受光面に形成される受光スポットの重心位置に応じて信号値の比率が決まる一対の位置信号をそれぞれ出力し、距離演算手段は投光スポットと受光光学系の中心とを通る直線から各受光素子の受光面にそれぞれ形成される受光スポットの重心位置までの偏差を相殺して対象物までの距離を求めることを特徴とする測距装置。