特許
J-GLOBAL ID：200903003363603267
界面計測方法及びマイクロ波界面計
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石戸 久子 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-041052
公開番号（公開出願番号）：特開2000-241232
出願日： 1999年02月19日
公開日（公表日）： 2000年09月08日
要約：
【要約】【課題】 気泡や近傍構造の影響を受けず、また、界面が明確でなくとも計測を行うことができる界面計測方法及び界面計測計を提供する。【解決手段】 ともに上澄み液相73内にあり互いの間隔が既知である2つのアンテナ14-8、14-6間にマイクロ波を伝搬させて、その伝搬位相遅れを計測し、ともに汚泥相72内にあり互いの間隔が既知である2つのアンテナ間14-4、14-2にマイクロ波を伝搬させて、その伝搬位相遅れを計測すると共に、汚泥界面74を挟んで上澄み液相73内と汚泥相72内にそれぞれあり互いの間隔が既知である2つのアンテナ14-6、14-4間にマイクロ波を伝搬させて、その伝搬位相遅れを計測し、それぞれの伝搬位相遅れから界面位置を求める。
請求項（抜粋）：
誘電率の異なる第1相と第2相との間の界面位置を検出する界面計測方法であって、ともに第1相内にあり互いの間隔が既知である2つのアンテナ間にマイクロ波を伝搬させて、その伝搬位相遅れを計測し、ともに第2相内にあり互いの間隔が既知である2つのアンテナ間にマイクロ波を伝搬させて、その伝搬位相遅れを計測すると共に、界面を挟んで第1相内と第2相内にそれぞれあり互いの間隔が既知である2つのアンテナ間にマイクロ波を伝搬させて、その伝搬位相遅れを計測し、それぞれの伝搬位相遅れから界面位置を求めることを特徴とする界面計測方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01F 23/28 D
, G01S 13/36
2F014AA07
, 2F014AB01
, 2F014FC01
, 5J070AC01
, 5J070AD05
, 5J070AD13
, 5J070AE20
, 5J070AF01
, 5J070AH34
, 5J070AH40
, 5J070AK14
