特許
J-GLOBAL ID：200903003438062178
異物検査装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小谷 悦司 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-023155
公開番号（公開出願番号）：特開平11-218501
出願日： 1998年02月04日
公開日（公表日）： 1999年08月10日
要約：
【要約】【課題】 粉煙を防止すると共に安定して均一な粉末薄層を形成することで誤検を抑制できて信頼性の高い異物検査装置を得る。【解決手段】 絶縁性ドラム2を帯電させる帯電チャージャー14と、絶縁性ドラム2とは逆極性に粉末3を帯電させる帯電チャージャー15とを有し、透明ガラス製の絶縁性ドラム2上に粉末3を薄層状に静電吸着させる静電吸着手段5が設けられ、絶縁性ドラム2上に静電吸着されて薄層化された粉末群を光学的に検査する光学的検査手段6が設けられているため、絶縁性ドラム2上に静電吸着させた粉末3は、より均一で安定な薄層を形成する。したがって、光学的検査手段6によって光学的な異物検出がより高精度に安定して行われる。
請求項（抜粋）：
粉末に混入している異物を検査する異物検査装置において、絶縁性の検査基体と、この検査基体上に粉末を静電吸着させる静電吸着手段と、この検査基体上に静電吸着された粉末を光学的に検査する光学的検査手段とを有することを特徴とする異物検査装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 21/89 Z
, G01V 9/04 A
