特許
J-GLOBAL ID:200903003473603394

超音波透過検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 小林 良平
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-078687
公開番号(公開出願番号):特開平5-237108
出願日: 1992年02月27日
公開日(公表日): 1993年09月17日
要約:
【要約】【目的】 再現性のある、相互に比較し得るデータを得るために、被検体の位置及び向きが一定となるようにチェックを行なうことのできる超音波透過測定装置。【構成】 被検体により反射され、或いは、被検体を透過して、検出素子アレイを構成する各超音波検出素子で検出された超音波の2次元強度分布31を所定の基準と比較し、被検体の位置及び向きが所定の基準位置・向きから大きく外れていないかどうかをチェックする。
請求項(抜粋):
被検体の表面で反射する超音波及び被検体を透過する超音波を測定することにより被検体の超音波透過特性を検査する超音波透過検査装置において、a)内部に被検体及び超音波整合液を入れる測定槽と、b)測定槽の一方の内壁において2次元的に配置された複数の超音波検出素子から成る検出素子アレイと、c)被検体により反射され、或いは、被検体を透過して、上記検出素子アレイに到達し、各超音波検出素子で検出された超音波の2次元分布を所定の基準と比較するチェック手段とを備えることを特徴とする超音波透過検査装置。
IPC (2件):
A61B 8/08 ,  G01N 29/08

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