特許
J-GLOBAL ID：200903003553786597
実装基板検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
和田 成則
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-246173
公開番号（公開出願番号）：特開平9-089797
出願日： 1995年09月25日
公開日（公表日）： 1997年04月04日
要約：
【要約】【課題】 画像処理において、乱反射に強く、急傾斜なはんだ付け部分を検知し、さらにランドパターン部分を描写しない反射光を参照して、部品種を認識することにより、正確な教示データを抽出する。【解決手段】 はんだ付け部分検出部46は、プリント基板10における反射光の分布状態よりはんだ付け部分の急傾斜部分を検出する。次に、判定部47は、はんだ付け部分検出部46により検出された急傾斜部分の外郭形状に基づき、部品種を特定する。実装情報変換部48は、急傾斜部分を示すはんだ候補データと、部品種テーブル43に格納されている部品種データとで実装データを形成する。そして、教示データ変換部50は、実装情報変換部48で形成されたれた実装データから教示データを形成する。
請求項（抜粋）：
プリント基板の検査領域に対して異なる仰角方向に配置された複数色の光源と、これらの光源による照射光の上記検査領域での反射光を受光してカラー画像信号に変換する撮像部と、この撮像部からのカラー画像信号から画像データを形成するA/D変換部とを備える実装基板検査装置において、上記プリント基板における反射光の分布状態より、はんだ付け部分の急傾斜部分を検出する急傾斜部分検出手段と、この急傾斜部分検出手段により検出された急傾斜部分の外郭形状に基づき、部品種を特定する部品種特定手段とを具備することを特徴とする実装基板検査装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 21/88 F
, H05K 13/08 Q
