特許
J-GLOBAL ID：200903003560909483
低温漏洩試験方法と装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
須山 佐一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-296702
公開番号（公開出願番号）：特開平10-142096
出願日： 1996年11月08日
公開日（公表日）： 1998年05月29日
要約：
【要約】【課題】 低温で使用される中空体の低温漏洩試験を、短時間に、正確に、しかも液体窒素やへリウムガスなどを無駄にすることなく効率的に実施することができる低温漏洩試験方法と装置を提供する。【解決手段】 低温で使用される中空体を被試験体として低温漏洩試験を実施する方法において、被試験体を真空容器内に収納し、この被試験体を、それに冷媒を直接触れさせることなく冷却し、被試験体内にトレーサガスを封入・加圧し、その漏洩の有無に基づいて漏洩試験を行うことを特徴とする。
請求項（抜粋）：
低温で使用される中空体を被試験体として低温漏洩試験を実施する方法において、被試験体を真空容器内に収納し、この被試験体を、それに冷媒を直接触れさせることなく冷却し、被試験体内にトレーサガスを封入・加圧し、その漏洩の有無に基づいて漏洩試験を行うことを特徴とする低温漏洩試験方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01M 3/20 B
, G01M 3/32 A
