特許
J-GLOBAL ID：200903003561373935
高距離分解能光伝送路測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
古谷 史旺
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-132904
公開番号（公開出願番号）：特開平5-322699
出願日： 1992年05月25日
公開日（公表日）： 1993年12月07日
要約：
【要約】【目的】 光伝送路中に入射させた光パルスの反射光および後方散乱光を測定し、光伝送路中に生じた破断点や障害点の特定に用いる高距離分解能光伝送路測定装置に関し、高い距離分解能を実現できるOFDRにおいて周波数掃引精度を高めることを目的とする。【構成】 光周波数掃引手段として、所定のパルス長を有する光パルスを生成する光パルス生成手段と、光パルスのパルス長と同一のループ長を有しかつゲイン媒質を添加したリング導波路と、リング導波路内で通過光に所定の周波数シフトを与える周波数偏移器とを石英基盤上に形成し、光パルス生成手段からの光パルスをリング導波路へ入射させ、その出力光を光分岐手段に送出するリング共振器光回路とを備え、リング共振器光回路に励起光を入射し、リング共振器光回路内における光パルスの損失を補償する励起光注入手段を備える。
請求項（抜粋）：
コヒーレント光源の出射光を時間軸上で周波数掃引して出力する光周波数掃引手段と、前記出力光を信号光と参照光に分波して信号光を被測定光伝送路に入射させ、参照光と被測定光伝送路から出射する反射光および後方散乱光を分岐出力する光分岐手段と、前記参照光を局部発振光として、前記反射光および後方散乱光をヘテロダイン検波し、周波数解析および所定の信号処理により前記被測定光伝送路の反射位置を特定する測定手段とを備えた光伝送路測定装置において、前記光周波数掃引手段は、コヒーレント光源の出射光を所定のパルス長を有する光パルスに変換する光パルス生成手段と、前記光パルスのパルス長と同一のループ長を有しかつゲイン媒質を添加したリング導波路と、リング導波路内で通過光に所定の周波数シフトを与える周波数偏移器とを石英基盤上に形成し、前記光パルス生成手段からの光パルスをリング導波路へ入射させ、その出力光を前記光分岐手段に送出するリング共振器光回路とを備え、前記リング共振器光回路に励起光を入射し、前記リング共振器光回路内における光パルスの損失を補償する励起光注入手段を備えたことを特徴とする高距離分解能光伝送路測定装置。
IPC (2件)：
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