特許
J-GLOBAL ID：200903003618342470
シングルチップマイクロコンピュータおよびそのテスト 方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
京本 直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-167900
公開番号（公開出願番号）：特開平10-011316
出願日： 1996年06月27日
公開日（公表日）： 1998年01月16日
要約：
【要約】【課題】シングルチップマイコンのBTスクリーニングにおいて、ユーザROM領域のメモリセルを活性化し、かつ任意の命令順でのみ動作する回路をも活性化し、製品の信頼性を向上する。【解決手段】内部バス16上のアドレスA16はマルチプレクサ13を介して、他のA0〜A15はそのままROM12のアドレスラッチ15にそれぞれ入力される。これにより、通常動作時にはユーザROMR領域00000H〜0FFFFHを実行し、テスト時にCPU11はテストROM領域00000H〜007FFHに格納された任意の命令およびユーザROM領域10000H〜1FFFFHの全アドレスにアクセスするフローを実行し、すべてのユーザROM領域のメモリセルを活性化させることが出来るので、信頼性の高い製品を提供することが出来る。
請求項（抜粋）：
ユーザの任意のプログラムコードが格納されたユーザROMおよびチップ内の回路をテストするためのプログラムコードが格納されたテストROMからなるROM部を内蔵し、前記テストROMから読み出した命令によりチップ内の回路を活性化してバイアス・テンパラチャースクリーニング法により初期不良を検出するシングルチップマイクロコンピュータにおいて、前記ROM部に与えられる2進数の複数ビットのアドレス信号のうち最上位ビットの少なくとも1ビットをROM選択ビットにあらかじめ設定し、この1ビットを正転または反転させて前記ROM部に供給することにより前記ユーザROM領域の物理アドレス空間および前記テストROM領域の物理アドレス空間のいずれかを選択してテストするROM選択手段を有することを特徴とするシングルチップマイクロコンピュータ。
IPC (2件)：
G06F 11/22 340
, G06F 15/78 510
G06F 11/22 340 F
, G06F 15/78 510 K
