特許

J-GLOBAL ID：200903003667383360

多重画像形成装置のレジ合わせ画像サンプリング補正方式

発明者： 田川 浩三 ,  森 浩隆 ,  安藤 良 ,  足利 英昭
出願人/特許権者： 富士ゼロックス株式会社
代理人 (1件)： 阿部 龍吉 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-005579
公開番号（公開出願番号）：特開平6-253151
出願日： 1993年01月18日
公開日（公表日）： 1994年09月09日
要約：

【要約】 (修正有)【目的】 多重画像形成装置のレジ合わせ画像サンプリング補正方式を改良し高速サンプリング及び演算処理の平滑化を可能にする。【構成】 各画像出力手段8、その出力制御手段7、主走査方向と副走査方向にそれぞれレジずれ測定用の粗又は精密パターンを繰り返し発生するパターンジェネレータ6と、転写ベルト9の主走査方向の両側で行うサンプリング手段3と、サンプリング制御手段2と、サンプリングデータを取り込みレジずれ算出をする演算処理手段5と、サンプリングデータ格納手段4を備え、制御手段1は、画像サンプリング補正の制御を行う場合、粗調整モードか微調整モードかに応じてパターンジェネレータの発生するレジずれ測定用パターンを選択すると共に、サンプリング制御手段のサンプル開始点及びサンプル幅を設定して繰り返しレジずれ測定用パターンを発生させサンプリングデータまたは演算処理データを積算しパターン位置を求める。

請求項（抜粋）：

複数個の画像出力手段を転写ベルトに沿って配設して多重画像を形成する多重画像形成装置のレジ合わせを行うためのレジ合わせ画像サンプリング補正方式において、各画像出力手段に画像データを供給し画像形成を制御する出力制御手段と、各画像出力手段の主走査方向と副走査方向にそれぞれ粗いレジずれ測定用パターンまたは細かいレジずれ測定用パターンを繰り返し発生するパターンジェネレータと、各画像出力手段によって形成された画像を転写ベルトの主走査方向の両側でサンプリングするサンプリング手段と、該サンプリング手段のサンプル開始ポイント及びサンプル幅を制御するサンプリング制御手段と、サンプリング手段でサンプリングしたデータを取り込みレジずれ算出のための演算処理を行う演算処理手段と、サンプリングデータまたは演算処理データを格納するデータ格納手段と、画像出力の制御や画像サンプリング補正の制御を行う制御手段とを備え、制御手段は、画像サンプリング補正の制御を行う場合、粗調整モードか微調整モードかに応じてパターンジェネレータの発生するレジずれ測定用パターンを選択すると共に、サンプリング制御手段のサンプル開始ポイント及びサンプル幅を設定して繰り返しレジずれ測定用パターンを発生させサンプリングデータまたは演算処理データを積算しパターン位置を求めるように構成したことを特徴とする多重画像形成装置のレジ合わせ画像サンプリング補正方式。

IPC (3件)：

H04N 1/40 101 ,  B41J 2/525 ,  G03G 15/01

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 特開平4-350677
  
• 特開平1-142674
  
• フルカラー画像記録装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-233840   出願人：株式会社日立製作所