特許

J-GLOBAL ID：200903003677415147

光ファイバの残留応力及び光弾性効果測定のための測定装置及びその方法

発明者： 金 徳永 ,  朴 用雨 ,  白 雲出 ,  ▲都▼ 文顯
出願人/特許権者： 三星電子株式会社
代理人 (1件)： 志賀 正武 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-059133
公開番号（公開出願番号）：特開2001-272285
出願日： 2001年03月02日
公開日（公表日）： 2001年10月05日
要約：

【要約】【課題】 本発明は、光ファイバの残留応力及び光弾性効果測定のための測定装置及び方法を提供する。【解決手段】 光源と、回転性光放散器と、光集光器と、光集光器を通過した光を光ファイバ軸に対して45°線形偏光ビームへ偏光する偏光器と、偏光器に90°の角度で設置され、光ファイバが密着した光ファイバの背景イメージが透過しないようにする偏光分析器と、偏光分析器に位置した光ファイバを長さ方向に引っ張らせ、光ファイバに加えられる張力を測定する張力センサーを備える光ファイバ引っ張り装置と、光ファイバを透過した光のイメージを拡大するための対物レンズと、光ファイバ引っ張り装置によって光ファイバに加えられる張力に従う光ファイバの透過変化を光ファイバの直径のスポットに従って測定するCCDアレイを含む。

請求項（抜粋）：

光ファイバの残留応力を測定するための装置において、光源と、前記光源から所定の距離で離隔して前記光源へ放出した光の空間コヒーレンスを抑制するための回転性光放散器と、前記光放散器を通過した放射光を前記光ファイバの設置された位置に集光させるための光集光器と、前記光集光器を通過した光を光ファイバ軸に対して45°線形偏光ビームで偏光する偏光器と、前記偏光器に90°の角度で設置され、前記光ファイバが密着した光ファイバの背景イメージが透過しないようにする偏光分析器と、前記偏光分析器に位置した光ファイバを長さ方向に引っ張らせ、前記光ファイバに加えられる張力を測定する張力センサーを備える光ファイバ引っ張り装置と、前記光ファイバを透過した光のイメージを拡大するための対物レンズと、前記光ファイバ引っ張り装置によって前記光ファイバに加えられる張力に従う光ファイバの透過変化を光ファイバ直径のスポットに従って測定するCCDアレイと、を含むことを特徴とする光ファイバの残留応力及び光弾性効果測定のための測定装置。