特許
J-GLOBAL ID：200903003689349204
3次元測定装置の制御方式
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
丸山 敏之 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-314534
公開番号（公開出願番号）：特開平6-161533
出願日： 1992年11月25日
公開日（公表日）： 1994年06月07日
要約：
【要約】【目的】 CADデータのない測定物に対しても、測定作業の完全自動化が可能な3次元測定装置の制御方式を提供する。【構成】 測定物3の表面を倣い移動すべき測定子2を具えた3次元測定機1と、測定子2の測定経路を数値制御すべき制御用コンピュータ6とを具えた3次元測定装置の制御方式において、3次元測定機1上には、測定物3を撮影すべきCCDカメラ9を配置し、該CCDカメラ9の出力信号に画像処理を施して測定物3の輪郭形状を認識し、該認識結果に基づいて測定子2の測定経路を生成して、制御用コンピュータ6にティーチングする。
請求項（抜粋）：
測定物(3)の表面を倣い移動すべき測定子(2)を具えた3次元測定機(1)と、測定子(2)の測定経路を数値制御すべき制御用コンピュータ(6)とを具えた3次元測定装置において、3次元測定機(1)上には、測定物(3)を撮影すべきCCDカメラ(9)を配置し、該CCDカメラ(9)の出力信号に画像処理を施して測定物(3)の輪郭形状を認識し、該認識結果に基づいて測定子(2)の測定経路を生成して、制御用コンピュータ(6)にティーチングすることを特徴とする3次元測定装置の制御方式。
IPC (2件)：
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